联系人:金磊
电 话:86-021-68367991
传 真:86-021-68367992
 
首页 公司介绍 产品展示 新闻动态 技术文章 招聘信息 询价留言 联系我们
  现在是:
  产品搜索
请在下面的文本框中输入产品关键字进行搜索:
 
 
  您所在的位置:上海璟瑞科学仪器有限公司 >>> 首页>>产品展示>>>>专利产品>>单(多)晶硅少子寿命测试仪
  产品大类
日本三丰长度类计量仪器
投影仪(投影机,测量投影仪)
工具显微镜
圆度仪
粗糙度仪
轮廓仪(表面形状测定仪)
影像测量仪
海克斯康三坐标测量机
桥式三坐标测量机
超高精度三坐标测量机
龙门式三坐标测量机
水平臂三坐标测量机
车间型三坐标测量机
关节臂三坐标测量机
德国蔡司三坐标测量机
桥式测量机
悬臂式测量机
德国马尔计量仪器
桌面测量仪
大型形状测量仪
万能形状测量仪
便携式粗糙度测量设备
固定式表面测量设备
带计算机表面测量设备
驱动器
传感器
附件
测量显微镜
复合式坐标测量机
光学坐标测量仪
雷尼绍Renishaw三坐标测头/测头座及测针
扫描测头座
自动旋转测头座
手动旋转测头座
接触式测头
扫描式测头
自动交换装置
钢卷尺检定台
光学试验
专利产品
通信电缆类测试仪
三向车削测力仪
拉力机
太阳能检测类仪器
其他
智能粉体测试仪
Zwick试验机
 
  产品展示  

单(多)晶硅少子寿命测试仪

点击放大
产品型号:
产品报价:
产品特点:
LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单(多)晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
  单(多)晶硅少子寿命测试仪的详细资料:

 

单(多)晶少子寿命测试仪 

 

型号LT-2

LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单(多)晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据通用方法高频光电导衰退法的原理设计,由稳压电源、高频源、检波放大器,特制的InGaAsp/InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。

技 术 指 标:

测试单晶电阻率范围>2Ω.cm

可测单晶少子寿命范围5μS~7000μS

配备光源类型波长:1.09μm;余辉<1μS;

闪光频率为:20~30次/秒;

闪光频率为:20~30次/秒;

高频振荡源用石英谐振器,振荡频率:30MHz

前置放大器放大倍数约25,频宽2Hz-1MHz

仪器测量重复误差<±20%

测量方式采用对标准曲线读数方式

仪器消耗功率<25W

仪器工作条件温度:10-35℃、湿度<80%、使用电源:AC220V,50Hz

可测单晶尺寸断面竖测:φ25mm—150mm;L2mm—500mm;

纵向卧测:φ25mm—150mm;L50mm—800mm;

配用示波器频宽0—20MHz;

电压灵敏:10mV/cm。

 

专业制造,厂价直销!

 如果你对单(多)晶硅少子寿命测试仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:

留言框

  • 产品:

  • 补充说明:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
 相关同类产品:
EVA-CD交联度测试仪  电声测试仪  JR-CCD6C系列表面粗糙度测量仪  12201C LD/LED光源特性测试实验仪 
日本原装 SIMCO FMX-003静电测试仪  BT-6100/L便携式蓄电池内阻容量分析仪  L6功率放大器  2300型全数字超声波探伤仪 
DSC-100 差示扫描量热仪  50KV电压击穿试验仪 
 
 
上海璟瑞科学仪器有限公司 版权所有 总访问量:121747 地址:上海浦星公路568弄31号(八号线芦恒路站二分钟即到) 邮编:315040
电话:86-021-68367991 传真:86-021-68367992 手机:18958270202 联系人:金磊 邮箱:njr17@126.com
GoogleSitemap 网址:www.chinacmm.com.cn 技术支持:化工仪器网 管理登陆 ICP备案号:沪ICP备2020029694号-1